日立科學儀器有限公司

日立分光光度計,站在科技尖端. 能根據不同要求測試不同物料的透光率和反射率

螢光分光光度計, 能提供3D螢光指紋圖譜螢光分佈成象系統

獨有偏振塞曼校正法及雙檢測方式. 高度精準及靈敏

Primaide, Chromaster, Chromaster Ultra
優異表現
容易操作
耐用

LA8080(坐台式/坐地式)
高速
柱後衍生技術
緊密設計以減少空間
只需培訓32秒便可操作

電位滴定儀
KF 水份滴定儀
水銀分析儀

AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達台的全自動型原子力顯微鏡。

“Ethos”採用日立高新的核心技術--全球領先的高亮度冷場發射電子槍及新研發的電磁複合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現高分辨觀察，還可以在FIB加工時實現實時觀察。

現有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100. "Regulus系列"繼承了現有機型的觀察和分析性能，配備SU8200系列的低噪音冷場發射電子槍^*1，可以獲得高穩定的束流。通過優化電子光學系統，Regulus8240/8230/8220在1kV條件下分辨率提高到0.7 nm，Regulus8100的分辨率提高到0.8 nm。此外，為充分發揮超高分辨的能力,大倍率也從過去的100萬倍提升到200萬倍^*1, Regulus8240/8230/8220/8100還完善了用戶支持功能，通過此功能用戶更容易理解各種複雜信號的檢測原理，幫助用戶充分發揮儀器的最佳性能。
*1 僅限Regulus8240/8230/8220

日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發揮其高性能。 SU3900標配多功能超大樣品倉，可應對大型樣品的觀察。

台式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。 我們以“更高畫質、更易於使用、更易於觀察”為理念，開發出TM4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。 為您提供全新的觀察和分析應用。

"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實現大視野、高對比度觀察的HT7800和配備同級別最高分辨率透鏡的HT7830。它代表了現代TEM分析的前沿解決方案。

ArBlade 5000是日立離子研磨儀的高性能機型。它實現了超高速截面研磨,高效率截面加工功能，使電鏡截面觀察時樣品加工更簡單。

納米尺度3D光學干涉測量系統VS1800應用光干涉現象，對微細的表面形貌進行測量，可實現高性能薄膜、半導體、汽車零配件、顯示器等行業所要求的高精度測量。而且還能以無損傷方式進行多層膜的層結構以及層內部的異物測量。